軸類件光學測量系統 Opticline C系列
業納JENOPTIK 軸類件光學機 CS系列
Waveline W800 霍梅爾Hommel 粗糙度輪廓儀W800/W900
粗糙度和輪廓模塊化測量系統Waveline W612
Waveline W10 霍梅爾Hommel 便攜式粗糙度儀 W10
德國業納Jenoptik 光學內部檢測系統 Visionline IPS B5
軸類件光學測量系統 Opticline C1000系列
德國業納JENOPTIK 三維測量儀FLEX-3A系列
軸類件光學測量系統 Opticline CA系列